MIT створив автономного робота з ШІ для аналізу матеріалів 

Дослідники з MIT представили повністю автономну роботизовану ШІ-систему для вимірювання ключових електричних властивостей нових напівпровідникових матеріалів. Це може відкрити шлях до ефективніших сонячних панелей, сенсорів і електроніки.

Система використовує контактний зонд для вимірювання фотопровідності — зміни електричних властивостей матеріалу під впливом світла. 

Завдяки інтеграції машинного навчання та матеріалознавства робот здатний обирати оптимальні точки для сканування. Спеціальний алгоритм планування маршруту забезпечує найкоротший шлях між цими точками, зменшуючи витрати часу.

«Це прорив для контактних вимірювань. Якщо вже потрібно торкатись до матеріалу — це має бути швидко, точно й без втрат», — коментує автор дослідження Тоніо Буонассісі.

У тестовому прогоні за 24 години робот зробив понад 3000 унікальних вимірів, визначивши ділянки з деградацією і «гарячі зони» з підвищеною провідністю. Така точність відкриває шлях до створення нових перовскітних матеріалів та більш ефективних компонентів для «зеленої» енергетики.

Наступна ціль MIT — повністю автономна лабораторія для відкриття нових матеріалів. Розробку підтримали First Solar, Eni, DOE, NSF та інші. Результати опубліковано в Science Advances.

Нагадаємо, науковці з Northeastern University продемонстрували можливість змінювати електропровідність матеріалу за запитом, що може відкрити шлях до заміни кремнію у пристроях нового покоління.